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首页 >> 新闻中心 >> 展会新闻
【展商回顾】CST展会圆满落幕,期待与您下次相聚
2023-07-25

7月11日-13日,Vision China 2023在国家会展中心(上海)成功举行。CST携多个精彩案例亮相展会,为期三天的展会于13日下午圆满落幕。

精彩案例回顾

针对半导体、光伏等重点行业,我们现场展示了多个成像方案,分别为电池?PL检测、硅?隐裂检测、分时线扫控制器、全光谱光源、5000万LUX光纤光源、锂电池焊锡检测、磁芯外观检测,以及全缺陷分时线扫照明系统和可编程控制器。

CST 5000万LUX光纤光源

产品型号:CST-HLS250-LEP;光源照度≥50000Klux,寿命12000h (L70) ;搭载5连装型滤镜转换器,可通过LCD触摸屏或上位机软件切换滤镜来改变出光颜色;光源亮度控制采用恒流方式,1000级调光,精准稳定。

适用于对光源亮度有较高要求的各类检测项目,尤其是半导体行业晶圆检测。

CST 全光谱光源

产品型号:CST-HLS150-W;光源光谱覆盖范围350nm-2500nm,可搭配滤光片使用;照度≥2000Klux;可定制多种标准接口,软管,光束直径规格及双管光纤。

光谱覆盖范围广、亮度高,搭配光纤和滤光片使用。多用于半导体行业,如晶圆芯片定位检测等。

CST  磁芯外观检测 

检测磁芯崩缺、裂纹、孔洞、残边等外观缺陷;项目定制款双色AOI光源,以两种最佳的光源照射角度配合达成最优的成像效果;以彩色相机配合红、蓝双色光成像,提高缺陷对比度;搭配频闪控制器,提高光源亮度,提升检测效率。

CST 电池片PL检测 

光源型号:CST-LS300-LD808;808nm 激光光源配合线阵工业相机成像;光源波长 808±5nm,波-温度系数 0.3nm/℃,峰值功率(CW) : 80W;光致发光(PL)原理检测隐裂,非接触式,不易产生二次缺陷;适用于硅晶电池片丝印工艺后的隐裂检测。

CST  可编程控制器

产品型号:CST-CPL2496C-8TD;可根据预设逻辑顺序,自行控制所有连结光源的导通状态;相比串口或以太网通讯控制,光源具有更快的响应速度;一个IO端口即可控制所有光源通道;可由上位机通过RS232设置光源的控制逻辑。

适用于外部触发信号不足,但需同时/顺序点亮多个光源的场景,运行中需频繁更改光源亮度的场景,需多通道交错组合触发光源的场景等。

我们所展示的成像方案得到了现场观众的高度评价,也赢得了众多潜在客户和合作伙伴的关注。

现场回顾

展会现场,我们的专业团队凭借着丰富的行业经验和专业知识,与许多客户进行了深入的洽谈,并为客户提供个性化的解答服务和技术咨询。

观众们对我们团队的专业素养和周到的服务印象深刻,也向我们公司表达了极高的赞扬和信任。

展会的圆满结束不仅是我们团队辛勤努力和积极合作的结果,也是我们对市场的深入了解的体现。参展的过程中,我们展示的不仅仅是成像案例,还有更重要的是与观众、业内同行进行了广泛的交流和互动。

我们通过倾听他们的需求和反馈,以便进一步优化产品的性能,确保能够更好地满足市场的需求。我们坚信,通过持续的努力,我们将在机器视觉领域取得更加辉煌的成就。落幕不散场,CST期待与您下次相遇!

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