ATF 自动对焦系统
应用范围 :
半导体光学检测 – Wafer, Package and Die Sorting
面板光学检测 – TFT-LCD, Solar Cell and Micro-LED
生物医学取像 – Liquid Biopsy, Cell Slide and Fluorescence Microscopy
精密雷射製程 – Cutting, Marking and Dicing
产品功能:
可用于移动或静态物体的高速即时自动对焦
每秒对焦次数可达3000次,内建高速响应伺服马达控制器
对应Area Scan和Line Scan的高速显微影像扫描完整解决方案。高度整合系统提供简易安装与使用
高阶SoC FPGA技术和全数位化演算法提供高可靠度和高精确度
内建高均匀度光源系统,并提供超高亮度光源或暗视野光源的选配,亮度可达million Lux.
可选配线性多物镜鼻轮、DIC微分干涉相差与萤光显微光路系统
与infinity-corrected microscope系统相容
Gigabit Ethernet网路控制介面,提供工业级的可靠性