通用型外观缺陷检测设备，集成先进深度学习算法和光学设计方案，实现对多去面、结构复杂的电子产品进行360°图像采集，快速捕捉产品表面细小瑕疵。
- 0.2秒完成单个被检测物料运动拍摄
- 关键缺陷0漏检
- 产能高达3600pcs/h